Jefiza, A. et al. 2025. Deteksi Wafer Menggunakan YO-LO Berbasis Barcode. Jurnal Ilmiah Teknik Mesin, Elektro dan Komputer. 5, 1 (Apr. 2025), 96–106. DOI:https://doi.org/10.51903/juritek.v5i1.4130.