Jefiza, Adlian, Bella Nur Azizah, and Harry Gunawan. 2025. “Deteksi Wafer Menggunakan YO-LO Berbasis Barcode”. Jurnal Ilmiah Teknik Mesin, Elektro Dan Komputer 5 (1):96-106. https://doi.org/10.51903/juritek.v5i1.4130.