Jefiza, Adlian, et al. “Deteksi Wafer Menggunakan YO-LO Berbasis Barcode”. Jurnal Ilmiah Teknik Mesin, Elektro Dan Komputer, vol. 5, no. 1, Apr. 2025, pp. 96-106, doi:10.51903/juritek.v5i1.4130.