Deteksi Wafer Menggunakan YO-LO Berbasis Barcode

Authors

  • Adlian Jefiza Politeknik Negeri Batam
  • Bella Nur Azizah Politeknik Negeri Batam
  • Harry Gunawan Politeknik Negeri Batam

DOI:

https://doi.org/10.51903/juritek.v5i1.4130

Keywords:

Wafer, YO-LO, Mongo DB Website

Abstract

Wafer atau chip adalah komponen utama dalam process IC Packaging, sehingga sudah seharusnya di rawat dengan baik. Penyimpanan wafer juga sangat berpengaruh pada kondisi wafer. Wafer akan di simpan di lemari khusus yang diberi semburan Nitrogen (N2 Cabinet), Nitrogen berguna untuk menghindari adanya kerusakan pada wafer seperti korrosion, disscoloration dan contaimination. Di dalam N2 cabinet dapat memuat 16 cassete dan 1 cassette dapat memuat sebanyak 25 wafer. Banyak nya project yang sedang dilakukan menyebabkan adanya penumpukan wafer yang tersimpan di N2 cabinet, kondisi tersebut membuat Engineer atau Teknisi kesulitan untuk mencari wafer. Salah satu faktor terjadinya penumpukan karena tercampurnya wafer yang sudah expire dan wafer baru. Penulis mencoba membuat suatu perangkat untuk membatu memberikan solusi atas keresahan yang di alami. Kamera yang berfungsi untuk membaca barcode pada wafer guna membaca lot Id wafer yang berada di dalam cassete, YO-LO sebagai pengelola hasil pembacaan dari kamera untuk dikonfigurasikan dengan database mongo DB yang sebelumnya di key in manual oleh pengguna untuk detail data wafer, lalu hasil data informasi akan ditampilkan di website. Bedasarkan hasil pengujian yang telah di lakukan sebanyak 70 kali percobaan hasil pendeksian barcode dan detail data wafer dapat di tampilkan di web secara real time.

References

M. Lee, C. F. Huang, An-Hong Liu, and Yi-Chang Lee, “RFID implementation in inventory management of wafer cassettes and probe cards in wafer testing houses,” in 2008 International Conference on Electronic Materials and Packaging, Taipei, Taiwan: IEEE, Oct. 2008, pp. 111–114. doi: 10.1109/EMAP.2008.4784242.

[2] U. Kaempf, “Automated wafer transport in the wafer Fab,” in 1997 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop ASMC 97 Proceedings, Cambridge, MA, USA: IEEE, 1997, pp. 356–361. doi: 10.1109/ASMC.1997.630762.

[3] H. Handayani, A. M. Ayulya, K. U. Faizah, D. Wulan, and M. F. Rozan, “Perancangan Sistem Informasi Inventory Barang Berbasis Web Menggunakan Metode Agile Software Development,” J. Test. Dan Implementasi Sist. Inf., vol. 1, no. 1, pp. 29–40, Mar. 2023, doi: 10.55583/jtisi.v1i1.324.

[4] “What is a semiconductor ?” Accessed: May 21, 2025. [Online]. Available: https://depts.washington.edu/matseed/mse_resources/Webpage/semiconductor/semiconductor.htm

[5] R. Kisiel and Z. Szczepański, “Trends in assembling of advanced IC packages,” J. Telecommun. Inf. Technol., no. 1, pp. 63–69, Mar. 2005, doi: 10.26636/jtit.2005.1.291.

[6] R. Chaware et al., “Assembly challenges in developing 3D IC package with ultra high yield and high reliability,” in 2015 IEEE 65th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), San Diego, CA: IEEE, May 2015, pp. 1447–1451. doi: 10.1109/ECTC.2015.7159787.

[7] A. Anhar and R. A. Putra, “Perancangan dan Implementasi Self-Checkout System pada Toko Ritel menggunakan Convolutional Neural Network (CNN),” ELKOMIKA J. Tek. Energi Elektr. Tek. Telekomun. Tek. Elektron., vol. 11, no. 2, p. 466, Apr. 2023, doi: 10.26760/elkomika.v11i2.466.

[8] R. Wudhikarn, P. Charoenkwan, and K. Malang, “Deep Learning in Barcode Recognition: A Systematic Literature Review,” IEEE Access, vol. 10, pp. 8049–8072, 2022, doi: 10.1109/ACCESS.2022.3143033.

[9] H. Matallah, G. Belalem, and K. Bouamrane, “Comparative Study Between the MySQL Relational Database and the MongoDB NoSQL Database:,” Int. J. Softw. Sci. Comput. Intell., vol. 13, no. 3, pp. 38–63, Jul. 2021, doi: 10.4018/IJSSCI.2021070104.

[10] M. R. Joy, S. Bairavel, and R. Dhanalakshmi, “Implementing QR Code–Based Contact Tracing Framework,” in 2021 International Conference on System, Computation, Automation and Networking (ICSCAN), Puducherry, India: IEEE, Jul. 2021, pp. 1–6. doi: 10.1109/ICSCAN53069.2021.9526486.

Downloads

Published

2025-04-30

How to Cite

Jefiza, A., Bella Nur Azizah, & Harry Gunawan. (2025). Deteksi Wafer Menggunakan YO-LO Berbasis Barcode. Jurnal Ilmiah Teknik Mesin, Elektro Dan Komputer, 5(1), 96–106. https://doi.org/10.51903/juritek.v5i1.4130